鈣鈦礦/疊層/多結太陽能電池測試采用雙光源太陽光模擬模擬器的必要性

對于鈣鈦礦太陽能電池、疊層和多結太陽能電池的精準測量，雙燈/雙源太陽光模擬器能更好的避免光譜失配對測試的影響，從而提高了測試結果的準確性。

評估光譜失配對鈣鈦礦太陽能電池測試的影響，需要結合理論量化和實驗驗證，通過針對性分析關鍵參數的偏差規律、材料特性的依賴性及測試重復性，明確誤差來源和程度。以下是具體的評估方法和步驟：

一、核心量化指標：光譜失配因子（MMF）的計算

光譜失配因子（Mismatch Factor, MMF）是評估光譜失配程度的核心參數，其物理意義是 “測試條件下電池的短路電流與標準條件（AM 1.5G）的比值”，直接反映光譜失配對 Jsc 的影響。計算公式如下：

計算步驟與意義：

1. 測量關鍵輸入數據：

· 用光譜儀測量太陽光模擬器在鈣鈦礦吸收波段（300~1000 nm，根據帶隙調整）的Esim(λ)；

· 測量電池的EQE(λ)（需確保 EQE 測試精度，尤其是吸收截止波長附近）。

2. 計算 MMF：若 MMF=1，說明光譜完全匹配；

MMF>1 表明模擬器在電池敏感波段光強過高，測量 Jsc 被高估；

MMF<1 則 Jsc 被低估。

3. 校正 Jsc：通過J sc,_校正=Jsc,_測量×MMF消除光譜失配對 Jsc 的一階誤差，這是評估的基礎。

二、關鍵性能參數的偏差分析

光譜失配的影響需通過對比“失配光譜下的 IV 參數” 與 “標準光譜下的理論 / 校準值”，量化各參數的偏差幅度：

1. 短路電流密度（Jsc）偏差

            · 直接偏差：通過 MMF 計算理論偏差（ΔJ sc=J sc,_測量?Jsc,_校正），并計算相對偏差（ΔJ sc/J sc,_校正×100%）。

· 判斷建議：AAA 級模擬器在鈣鈦礦吸收波段（300~800 nm）的相對偏差若> 15%，說明光譜失配嚴重。

· 波長依賴性驗證：結合 EQE 曲線，定位偏差主要來源波段。例如，若 EQE 在 500 nm 處峰值較高，而模擬器 500 nm 光強比標準譜低，則該波段是 Jsc 偏差的主因。

2. 開路電壓（Voc）偏差

· 測量不同光譜條件下的 Voc（如通過濾光片改變模擬器光譜分布，保持總光強一致），計算相對偏差（ΔVoc/Voc,_校正×100%）。

· 分析規律：若短波（<500 nm）光強不足導致 Voc 下降，說明載流子濃度降低是主因；若長波過強導致 Voc 下降，可能是溫度升高（需同步監測電池溫度）。

3. 填充因子（FF）與效率（PCE）的連鎖偏差

· 計算 FF 的相對偏差（ΔFF=(FF_測量?FF_校正)/FF_校正×100%），其中FF校正需結合校正后的 Jsc 和 Voc 重新計算。

· PCE 總偏差：通過ΔPCE=(PCE_測量?PCE_校正)/PCE_校正×100%評估，若偏差較大，則需重新校準光譜。

三、滯后效應與重復性的評估

光譜失配對鈣鈦礦 IV 曲線的滯后和重復性影響需通過統計分析驗證：

滯后程度波動：

· 在同一模擬器下，重復測量正掃（從 Voc 到 Jsc）和反掃（從 Jsc 到 Voc）的 IV 曲線，計算滯后因子（HF=(PCE_反掃?PCE_正掃)/PCE_反掃×100%）。

· 對比不同光譜條件（如更換模擬器或調整濾光片）下的 HF 分布，若相對標準偏差（RSD）較大，說明光譜失配加劇了滯后不穩定性。

四、組分依賴性評估（針對不同帶隙鈣鈦礦）

由于鈣鈦礦帶隙（吸收截止波長）隨組分變化，需評估光譜失配的差異化影響：

1. 窄帶隙鈣鈦礦（如 1.2~1.4 eV，吸收至 900 nm）：

· 重點驗證 700~900 nm 波段的光譜匹配，計算該波段的子 MMF（僅積分 700~900 nm），若子 MMF 偏差較大，則 Jsc 總偏差會顯著增大。

         注：光譜對比圖：

-雙光源太陽光模擬器光譜從300nm~1200nm與AM1.5G標準光譜幾乎完美吻合；

-單氙燈太陽光模擬器光譜則在750nm以后出現很高的峰值和很低的谷值，雖然是A 級或A+級光譜，但光譜匹配在小范圍內仍然較差!

-對于疊層太陽能電池，中/底電池的主要光譜吸收集中在700nm以后波段，因此，在單燈太陽光模擬器上不可避免的會產生較大誤差；而雙燈/雙光源太陽光模擬器可以有效避免該因素影響。

2. 寬帶隙鈣鈦礦（如 1.6~1.8 eV，吸收至 680 nm）：

· 重點驗證 350~600 nm 波段的光譜匹配，同時監測 Voc 偏差，若該波段光強波動導致 Voc RSD較大，則需針對性校準。

3. 對比實驗：用同一模擬器測試不同帶隙的鈣鈦礦，繪制“帶隙 - 參數偏差” 曲線，明確模擬器光譜的 “敏感波長區間”。

五、實驗驗證：控制變量法與標準電池校準

1. 控制變量法：

· 保持總光強（100 mW/cm2）不變，通過更換濾光片（如短波截止濾光片、長波截止濾光片）改變模擬器光譜分布，測量 IV 參數變化。

· 例如：加 650 nm 截止濾光片（移除 > 650 nm 光）后，寬帶隙鈣鈦礦（吸收至 680 nm）的 Jsc 應顯著下降，若下降幅度與 EQE 預測偏差較大，說明原光譜在該波段失配。

2. 標準電池對比：

· 使用經認證的鈣鈦礦標準電池（或已知性能的參考電池），在待測太陽光模擬器和高精度標準太陽光模擬器（如雙燈太陽光模擬器、A+A+A 級，光譜匹配誤差 < ±10%（<±5%更好 MS級））上分別測試，對比參數偏差。

· 若待測太陽光模擬器的 Jsc 與標準值偏差較大，且通過 MMF 校正后仍較大，則需重新校準模擬器光譜。

總結：評估流程與合格標準

1. 計算 MMF 并校正 Jsc，確保 Jsc 相對偏差足夠小；

2. 分析 Voc、FF、PCE 的連鎖偏差，總 PCE 偏差足夠小；

3. 驗證滯后因子和參數重復性，使得RSD足夠小；

4. 針對鈣鈦礦組分（帶隙），評估敏感波段的光譜匹配，子波段 MMF 偏差足夠小。

通過以上步驟，可系統量化光譜失配的影響程度，為測試數據的可靠性提供依據。對于高精度研究，采用雙燈/雙源太陽光模擬器（光譜不匹配度<±10%A+ 級 or ±5%MS級）是一個理想的選擇。

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