日本SAN-EI 太陽(yáng)光模擬器匹配標(biāo)準(zhǔn)的AAA Class太陽(yáng)能模擬器，又稱太陽(yáng)光模擬器或者太陽(yáng)模擬器；適合于各種光電材料、光電器件、OPV有機(jī)太陽(yáng)能電池、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池領(lǐng)域、光生物領(lǐng)域的研究、測(cè)試以及評(píng)價(jià)等。
代表性用戶：清華大學(xué)，北京大學(xué)，西安交通大學(xué)，上海交通大學(xué)，南開(kāi)大學(xué)，華南理工大學(xué)等大學(xué)；中科院化學(xué)所，中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院，天合光能，寧德時(shí)代，比亞迪，晶科，愛(ài)旭，維信諾等；
設(shè)備型號(hào)：XES-100S1（XES-40S3, XES-40S3-TT, XES-100S1, XES-160S1, XES-200S1, XES-300S1等）
日本SAN-EI 太陽(yáng)光模擬器技術(shù)參數(shù)：AM1.5G A Class 光譜 & AM0 匹配光譜！
匹配標(biāo)準(zhǔn)的太陽(yáng)能模擬器（3A），太陽(yáng)光模擬器（3A），穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)能模擬器，AAA Class Solar Simulator；太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀，量子效率，光譜響應(yīng)及IPCE測(cè)量系統(tǒng)；
? 光源功率：300W；
? 光譜范圍；300nm~1200nm，匹配新版IEC標(biāo)準(zhǔn)；
? 輻射面積：100mm×100mm；（40mm×40mm、100mm×100mm、160mm×160mm、200mm×200mm、300mm×300mm等，可根據(jù)要求定制）
? 操作便捷，性能穩(wěn)定；
? 光譜不匹配性：AM1.5G <±12.5%（A+ Class）；
? 光強(qiáng)不穩(wěn)性：<1% （A+ Class）；
? 照射均勻性：<2% （A Class）；
? 初始輻射強(qiáng)度：1000W/m2 (1sun)；
? 輻射強(qiáng)度可調(diào)范圍：±30%；
? 燈管平均壽命1000小時(shí)；
主要特點(diǎn)：
? 性能穩(wěn)定；
? 匹配AAA Class 標(biāo)準(zhǔn)：ASTM 標(biāo)準(zhǔn)、IEC 標(biāo)準(zhǔn)、JIS 標(biāo)準(zhǔn)；
? 照射方向以及燈的位置可調(diào)；
? 用戶可自己設(shè)定光照強(qiáng)度；
? 燈使用壽命自動(dòng)計(jì)時(shí)；
太陽(yáng)能電池IV測(cè)試軟件：
? 基本測(cè)量功能： 完整 I-V 曲線測(cè)量， 完整 P-V 曲線測(cè)量，短路電流 Isc 測(cè)量，開(kāi)路電壓 Voc 測(cè)量， 短路電流密度 Jsc 測(cè)量，峰值功率 Pmax 測(cè)量，峰值功率電流 Imp 測(cè)量，峰值功率電壓 Vmp 測(cè)量，效率測(cè)量，填充因子 FF 測(cè)量，串聯(lián)電阻 Rs 測(cè)量，并聯(lián)電阻 Rsh 測(cè)量；
? Light光照條件下，太陽(yáng)能電池IV 和PV曲線測(cè)量（包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測(cè)試功能）；
? Light光照條件或Dark無(wú)光照條件下，太陽(yáng)能電池I-V 和P-V曲線測(cè)量，I-t曲線和V-t曲線測(cè)量；
? Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測(cè)量功能（太陽(yáng)能電池效率衰減測(cè)試功能）；
? MPPT追蹤測(cè)試功能（Pmax 功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化）；
? Repeatability 重復(fù)性測(cè)試功能；
標(biāo)準(zhǔn)電池：
? 追溯性：權(quán)威計(jì)量機(jī)構(gòu)；
? 標(biāo)準(zhǔn)電池尺寸：20mm*20mm，材質(zhì)單晶硅電池；
? 窗口玻璃可選：KG2，KG5和BK5
? 內(nèi)置PT100標(biāo)準(zhǔn)溫度傳感器；
? 認(rèn)證機(jī)構(gòu)出具證書；
? 附帶測(cè)試數(shù)據(jù)。
測(cè)試源表：
測(cè)試夾具可定制！
