AM0 &AM1.5G A+ Glass 雙燈太陽光模擬器/雙燈太陽能模擬器，目前由日本SAN-EI公司開發(fā)，并且已交付AIST、中國計(jì)量科學(xué)研究院（3SET）、中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)、南京大學(xué)、南開大學(xué)等使用；該設(shè)備光譜不匹配性<±10%，有效光譜范圍300nm~1800nm。
現(xiàn)推出新功能：多通道光譜調(diào)節(jié)功能；
主要應(yīng)用：
滿足各種太陽能電池的測試，例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機(jī)導(dǎo)電*分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等；
主要特點(diǎn)：AM1.5G A Class 光譜 & AM0 匹配光譜！
? 雙燈設(shè)計(jì)，光譜范圍 300nm~1800nm；
? 濾片選擇：AM1.5G、AM0或其他；
? 匹配JIS 8912,IEC 60904-9,ASTM E927-5標(biāo)準(zhǔn)；
? 光譜不匹配性：<±10% （up to <±5%）A+級；
? 光強(qiáng)不均勻性：<2% A Class；
? 光強(qiáng)不穩(wěn)定性：<1% A+級；
? 有效光斑面積：80mmX80mm(50mmX50mm，180mmX180mm，220mmX220mm，300mmX300mm其他面積尺寸可定制）；
? 多通道光譜調(diào)節(jié)功能；
? 用于單結(jié)，疊層，多結(jié)太陽能電池測量；
? 典型用戶：中國計(jì)量科學(xué)院研究院（3SET），中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)，南開大學(xué)，南京大學(xué)、西安交通大學(xué)，電子科技大學(xué)，日本AIST（2SET），仁爍光能，天合光能... ...
實(shí)測光譜圖：
AM1.5G光譜
AM0光譜
雙燈太陽光模擬器光譜 Vs. 單燈太陽光模擬器光譜
基于上圖：雙燈光譜（黃色）與標(biāo)準(zhǔn)AM1.5G 光譜(紅色)匹配高度匹配，幾乎重合，在很大程度上大大降低了光譜失配對鈣鈦礦/疊層太陽能電池測試的影響！
單燈光譜（藍(lán)色）與標(biāo)準(zhǔn)AM1.5G 光譜(紅色)匹配在750nm以后較差，藍(lán)色盡管在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的光譜分段內(nèi)能量積分值與標(biāo)準(zhǔn)值接近，但是其存在很高的峰值和很低的谷值，這種情況特別是對疊層/多結(jié)太陽能電池測試會導(dǎo)致較大誤差！
故：對于750nm以后有吸收的太陽能電池，使用雙燈太陽光模擬器測試將有效降低光譜失配導(dǎo)致的誤差，提高測試精準(zhǔn)度。
擴(kuò)展功能：
1. IV測試軟件:
? 基本測量功能： 完整 I-V 曲線測量， 完整 P-V 曲線測量，短路電流 Isc 測量，開路電壓 Voc 測量， 短路電流密度 Jsc 測量，峰值功率 Pmax 測量，峰值功率電流 Imp 測量，峰值功率電壓 Vmp 測量，效率測量，填充因子 FF 測量，串聯(lián)電阻 Rs 測量，并聯(lián)電阻 Rsh 測量；
? Light光照條件下，太陽能電池IV 和PV曲線測量（包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能）；
? Light光照條件或Dark無光照條件下，太陽能電池I-V 和P-V曲線測量，I-t曲線和V-t曲線測量；
? Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測量功能（太陽能電池效率衰減測試功能）；
? MPPT 追蹤測試功能（Pmax 功率點(diǎn)隨時間的變化）；
? Repeatability 重復(fù)性測試功能。
2.標(biāo)準(zhǔn)電池：
? 追溯性：權(quán)威計(jì)量機(jī)構(gòu)；
? 標(biāo)準(zhǔn)電池尺寸：20mm*20mm，材質(zhì)單晶硅電池；
? 窗口玻璃可選：KG2，KG5和BK5
? 內(nèi)置PT100標(biāo)準(zhǔn)溫度傳感器；
? 認(rèn)證機(jī)構(gòu)出具證書；
? 附帶測試數(shù)據(jù)。
3.測試源表：
4.測試夾具可定制！
